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產品說明：
使用了1/4波長板和PBS的偏光邁克耳遜干涉儀，可測試半導體激光器的背景光的相干長度。
特點：
首先使用He-Ne激光光源，調整好干涉儀，然后使用平臺把反射鏡移開，入射一束準直的半導體激光束。使用偏光板過濾掉激光成分，僅讓背景光到達攝像頭。一點一點地耐心調試可動反射鏡找到出現(xiàn)干涉條紋的位置�？梢杂^測到干涉條紋的范圍便是其相干長度了。
干涉儀構成：
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品 名 |
數 量 |
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① |
激光組件 |
1 |
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③ |
偏光板組件 |
2 |
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⑳ |
反射鏡組件 |
1 |
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㉑ |
1/2波長板組件 |
1 |
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㉒ |
PBS組件 |
1 |
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㉓ |
1/4波長板組件 |
2 |
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② |
反射鏡組件 |
2 |
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㉔ |
可動反射鏡組件 |
1 |
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㉕ |
凹透鏡組件 |
1 |
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⑦ |
USB攝像頭組件 |
1 |
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⑬ |
D-TOP底板 |
1 | |
